在許多化工、食品、陶瓷、電子工業(yè)和其他使用壓縮空氣能源的工業(yè)部門(mén)中，壓縮空氣的污染會(huì)破壞其他工藝過(guò)程。因此，為了提高氣動(dòng)設(shè)備和系統(tǒng)的使用壽能和可靠性，保證生產(chǎn)出來(lái)的產(chǎn)品的質(zhì)量，就必須對(duì)壓縮空氣進(jìn)行凈化和干燥處理。

01對(duì)壓力、流量的要求

任何需要壓縮空氣的場(chǎng)合對(duì)壓縮空氣的壓力和流量都是有要求的。目前普遍的壓力在0.7Mpa左右.在一些特殊場(chǎng)合如玻璃行業(yè),空氣壓力要求在0.2~0.4Mpa左右：在某些企業(yè)，對(duì)壓縮空氣壓力要求可能在幾十Mpa。

CS Instruments專(zhuān)門(mén)為嚴(yán)苛的工業(yè)應(yīng)用開(kāi)發(fā)了流量傳感器 VA550（插入式）或 VA570（集成有測(cè)量段的版本）。此外，這些流量傳感器因其牢固耐沖擊的鋁壓鑄外殼而輕松應(yīng)對(duì)戶外安裝 (IP65)。我們還可按需提供 ATEX 或 DVGW 認(rèn)證。

CS Instruments的所有流量計(jì)均采用量熱法工作，直接測(cè)量熱質(zhì)量流或標(biāo)準(zhǔn)體積容量。不需要額外的溫度和壓力補(bǔ)償。標(biāo)準(zhǔn)容量采用了常用的體積單位，方便相互對(duì)比各種氣體量下的不同壓力和溫度。所有我們的傳感器均可直接在顯示屏上設(shè)置不同標(biāo)準(zhǔn)的參考條件。這種形式的流量計(jì)可以直接顯示設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)下的消耗量。壓縮空氣領(lǐng)域通常采用 ISO 1217 (1000 mbar, 20 °C) 標(biāo)準(zhǔn)，而工業(yè)氣體則采用 DIN1343 (1013 mbar, 0 °C)。 

02對(duì)干燥度（含水量或露點(diǎn)）的要求：

不同的工藝對(duì)壓縮空氣露點(diǎn)溫度要求也不同，如用作儀表方面的壓縮空氣壓力露點(diǎn)一般要求在-40°C以下，而對(duì)半導(dǎo)體芯片廠對(duì)壓縮空氣的壓力露點(diǎn)要求在-70°C，但在多數(shù)場(chǎng)合，對(duì)壓縮空氣的露點(diǎn)溫度要求在0°C以上就已經(jīng)足夠。壓縮空氣的露點(diǎn)要求通常由干燥機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

德國(guó)cs instruments專(zhuān)門(mén)為監(jiān)測(cè)冷凍式干燥機(jī)、吸附式干燥機(jī)或膜式干燥機(jī)的露點(diǎn)溫度而量身打造的固定式或移動(dòng)式解決方案。與我們測(cè)量系統(tǒng)匹配的如測(cè)量室、干燥箱或防滲密封管路等配件，將我們的露點(diǎn)測(cè)量?jī)x打造成全套解決方案，無(wú)泄漏和*監(jiān)測(cè)管道的露點(diǎn)和剩余濕度。

接口有 4…20mA、Modbus RTU 或 M-Bus 可供選擇。此外，我們的露點(diǎn)測(cè)量?jī)x可隨時(shí)與我們的數(shù)據(jù)記錄器配合使用。CS Instruments 的露點(diǎn)傳感器為 -80…20 °C 露點(diǎn)范圍的工業(yè)應(yīng)用提供了可靠且長(zhǎng)久穩(wěn)定的露點(diǎn)監(jiān)測(cè)。由于測(cè)量室采用了間接的安裝方式，因此確保感應(yīng)器拆裝方便而無(wú)需中斷線路，適應(yīng)時(shí)間短并為傳感器提供了*佳的防護(hù)。

03對(duì)清潔度的要求

（相對(duì)比較復(fù)雜，包括：固物體、油 霧、微生物、有害氣體等）：壓縮機(jī)將環(huán)境空氣壓縮，由此生成壓縮空氣。如果壓縮空氣內(nèi)的污染物與成品接觸，可能導(dǎo)致出現(xiàn)更高的廢品率。第一眼看上去低成本的解決方案，通常最終都會(huì)變成極其昂貴的壓縮空氣生成方式。因此用戶必須在生成壓縮空氣之后處理經(jīng)過(guò)壓縮的空氣，因?yàn)檫@些空氣含水、油、粉塵顆粒和其他污染物。根據(jù)所需壓縮空氣質(zhì)量的不同，這些內(nèi)含物在生產(chǎn)時(shí)可能造成各種問(wèn)題，增加運(yùn)行成本。

CS Instruments 既可為遵照 ISO 8573-1 檢測(cè)壓縮空氣質(zhì)量提供便攜式測(cè)量?jī)x，也可提供固定式測(cè)量?jī)x：

Oil Check 殘油測(cè)量?jī)x

PC 400顆粒測(cè)量?jī)x

FA 510 露點(diǎn)測(cè)量?jī)x